DIAM-D3-GRD47(2x)-R0.005-L12-DSE1" 的解析:
此完整型號(hào) 并非出現(xiàn)在所上傳文件中,而是您在提問(wèn)中額外提供的。結(jié)合行業(yè)命名慣例(尤其適用于坐標(biāo)測(cè)量機(jī) CMM 探針或光學(xué)探頭),可對(duì)各字段進(jìn)行推測(cè)性解析如下:
型號(hào)字段 | 可能含義 | 說(shuō)明 |
|---|---|---|
xDIAM-D3 | 探針類型/系列 | “xDIAM” 可能為 GOEKELER 的高精度光學(xué)探針系列;“D3” 可能表示直徑或探頭代號(hào) |
GRD47 | 材料/研磨等級(jí) | “GRD” 通常指 grind(研磨) 等級(jí),47 可能為陶瓷/碳化鎢球的表面光潔度或粒徑等級(jí) |
(2x) | 數(shù)量或雙頭配置 | 表示該探針為 雙球(twin stylus) 或含兩個(gè)測(cè)量點(diǎn) |
R0.005 | 球端半徑 | 測(cè)量球半徑為 0.005 mm(即 5 µm),屬超微探針,用于高精度微觀測(cè)量 |
L12 | 有效長(zhǎng)度 | 探針有效工作長(zhǎng)度為 12 mm |
DSE1 | 接口/適配類型 | 可能表示適用于 ZEISS DSE 接口 或某標(biāo)準(zhǔn)快換模塊(如 Renishaw M2/M3 等) |
綜合解析表(基于行業(yè)慣例 + 有限文件信息)
項(xiàng)目 | 內(nèi)容 |
|---|---|
品牌 | GOEKELER Messtechnik |
產(chǎn)品類型 | 高精度光學(xué)/接觸式探針(用于坐標(biāo)測(cè)量機(jī) CMM 或光學(xué)比測(cè)儀) |
型號(hào)標(biāo)識(shí) | FRM-DIAM3.7(文件中明確)<br>完整客戶型號(hào):xDIAM-D3-GRD47(2x)-R0.005-L12-DSE1(文件未出現(xiàn)) |
零件號(hào)(Part No.) | AU-2514823 |
探針編號(hào) | 3(可能為批次或配置編號(hào)) |
測(cè)量球半徑 | 推測(cè)為 R = 0.005 mm(5 µm) |
探針長(zhǎng)度 | 推測(cè)為 12 mm |
結(jié)構(gòu)特征 | 雙球配置(2x),超細(xì),適用于微小特征測(cè)量 |
材料 | 推測(cè)為 碳化鎢或陶瓷測(cè)量球 + 碳纖維/不銹鋼桿體(GRD47 暗示高硬度研磨球) |
放大倍率(檢測(cè)用) | X200(用于校準(zhǔn)或驗(yàn)證時(shí)的顯微觀測(cè)) |
檢測(cè)日期 | 2025年11月4日 |
檢測(cè)人 | S. Staiger |
是否含完整技術(shù)參數(shù)? | ? 否 — 文件僅為檢測(cè)證書,無(wú)尺寸圖、公差、材料認(rèn)證等 |
測(cè)試探針是電子測(cè)試領(lǐng)域用于檢測(cè)印刷電路板組件(PCBA)連接性能的關(guān)鍵元件。截至2012年,其類型可分為三種,國(guó)內(nèi)產(chǎn)品普遍采用進(jìn)口材質(zhì)以保障導(dǎo)電性能和耐用性
國(guó)內(nèi)制造的測(cè)試探針多采用進(jìn)口材質(zhì) [1],該材質(zhì)具備低電阻率和高機(jī)械強(qiáng)度的特性。材料特性直接影響探針的接觸電阻穩(wěn)定性,確保測(cè)試過(guò)程中信號(hào)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性。
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