從1mHz到10kHz，高電場介電損耗與漏電流準(zhǔn)確測量

在高電場作用下，材料介電極化行為、介質(zhì)損耗特性及微弱漏電流易受場強、頻率、溫度及外界電磁干擾影響，導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)漂移、重復(fù)性差、真實性能難以準(zhǔn)確表征。如何在復(fù)雜工況下實現(xiàn)測得準(zhǔn)、測得穩(wěn)、測得全，是介電材料、絕緣材料、功能陶瓷及電子器件研發(fā)與質(zhì)控的關(guān)鍵痛點。

華測儀器高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng)，是為強場電性能準(zhǔn)確表征而設(shè)計。整機采用全集成一體式硬件架構(gòu)，將 FPGA 高速主控、高準(zhǔn)度高壓放大模塊與高性能鎖相檢測單元協(xié)同工作，從信號發(fā)生、高壓輸出到微弱電流采集全程閉環(huán)控制，大幅優(yōu)化系統(tǒng)穩(wěn)定性與信噪比。

系統(tǒng)搭載AC DFR 介電頻率響應(yīng)技術(shù)，直接原位測量材料介電頻譜特性，摒棄傳統(tǒng)間接換算帶來的誤差累積，具備強抗干擾能力，即便在高電場、高噪聲工業(yè)與科研環(huán)境中，仍能確保測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠、長期穩(wěn)定。

頻率覆蓋1mHz 至 10kHz寬頻域，輸出電壓0～500V連續(xù)可調(diào)，高壓響應(yīng)速度可達(dá)150V/μs，可跟隨動態(tài)波形，滿足強場、瞬態(tài)電場下的材料性能測試需求。電流檢測靈敏度可至2×10^-13A，阻抗測量上限可達(dá)10^15Ω，準(zhǔn)確捕捉極小漏電流與高絕緣材料的微弱電信號。

搭配環(huán)境箱與液氮控溫模塊，實現(xiàn)-80℃至 230℃寬溫區(qū)連續(xù)變溫測試，真實還原材料在復(fù)雜溫度與強電場耦合環(huán)境下的服役行為。系統(tǒng)支持同步采集介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、漏電流、阻抗、電導(dǎo)率等全維度參數(shù)，無需多次切換測試設(shè)備，數(shù)據(jù)一致性更強、測試效率更高。

同時支持自定義電壓波形輸出，可模擬多種實際工況電場，為材料篩選、機理研究、失效分析及器件可靠性評估提供完整的測試解決方案。